UV固化技术温度漂移对辐照度测量的影响研究——基于V-R眼镜Speaker组装工序的系统性分析

苑 收(歌尔股份有限公司,中国)
穆 亚东(歌尔股份有限公司,中国)

DOI: http://dx.doi.org/10.12349/iser.v7i5.10532

Article ID: 10532

摘要


UV固化技术因其固化效率高,能耗低及环保等优势,在工业制造领域得到广泛应用.然而,UV固化设备在工作过程中产生的热量导致温度变化,进而影响辐照度测量的准确性。本研究针对VR眼镜Speaker组装工序中UV固化设备的温度漂移问题,系统分析了温度对紫外光电传感器性能的影响机理.研究表明:温度升高会引起传感器暗电流增大(温度每升高8~10℃,暗电流约翻倍)和响应度下降(温度每升高1℃,响应度下降约0.1%),两者共同作用导致辐照度读数出现显著负偏差。

关键词


UV固化;辐照度测量;温度补偿;光电传感器;响应度

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参考


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