TR 组件射频性能稳定性测试与可靠性评估研究
DOI: http://dx.doi.org/10.12349/iser.v7i3.9480
Article ID: 9480
摘要
伴随相控阵雷达与高密度通信系统对TR组件可靠性要求的一直增强,射频性能在冗杂环境应力下的稳定性变成制约系统长期运行的关键因素。为显示其退化机理并实现寿命预测,本研究建立了包含温度循环、长期通断及高功率冲击的多维度测试体系,系统表征增益、输出功率、相位一致性等参数在热-电-机械耦合应力下的时变特性,进而融合失效物理分析与加速试验数据,建立依据热疲劳裂纹扩展跟电迁移机制的非线性退化模型,并引入多应力耦合因子与贝叶斯更新方法增进寿命预测精度。该框架为TR组件的可靠性建模、设计改良与健康管理给出了理论支撑。
关键词
TR组件;射频性能稳定性;可靠性评估;加速寿命试验;退化模型
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