硅材料加工中的表面粗糙度控制技术研究

冯 小娟(浙江海纳半导体股份有限公司,中国)

DOI: http://dx.doi.org/10.12349/mit.v2i3.6621

Article ID: 6621

摘要


硅材料作为微电子器件和光电组件制造的核心基础,其加工过程中的表面粗糙度直接关系到成品性能与产品良率。为实现高性能器件的制造需求,控制硅材料加工表面的微观形貌成为关键技术环节。本文围绕硅材料在切削、研磨、抛光等加工阶段中出现的粗糙度问题,系统梳理了影响表面质量的核心因素,探讨了超精密加工、化学机械抛光、激光辅助技术等控制路径的应用机理与效果,并对典型工艺技术进行了对比分析。通过构建粗糙度控制技术与终端应用性能的关联模型,指出控制精度、加工效率与成本之间的平衡关系,明确了当前产业化过程中存在的瓶颈,提出了未来可持续发展的方向依据。

关键词


硅材料;表面粗糙度;超精密加工;工艺优化;微观形貌控制

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参考


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